短波赤外線ランプ半導体

ファブ内では、フォトレジストの焼成時に0.1℃の変動があるだけで、重要な寸法がナノメートル単位で変わってしまいます。これは「許容範囲」というものではなく、製品として不合格となります。私たちは、このような不確実性を排除するために短波長赤外線ランプを開発しました。そうすることで、ウェーハ全体の均一性が...